销售咨询热线:
18516146837
  • 光学薄膜测厚仪

    光学薄膜测厚仪 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、且快速的光学薄膜厚度测量技术,我们的薄膜测量系统采用光干涉原

    更新时间:2020-11-01

    厂商性质:经销商

    查看详细介绍
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
XML 地图 | Sitemap 地图